东大23年3月考试《现代材料测试技术X》考核作业

 
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    一、填空题:(10题,共20分)
    1. 从X射线管射出的X射线谱通常包括(     )和(      )。
    2. 布拉格公式λ=2dsinθ中λ表示(    ),d表示(   ),θ表示(   )。
    3. 利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是(    ),参考(    )。
    4. 透射电镜中的电子光学系统可分为(    )、(    )和(    )三部分。
    5. 电镜中的电子衍射花样有(     )、(      )、(      )和(      )。
    6. 等厚条纹是衍射强度随试样(        )的变化而发生周期性变化引起的,图像特征为(        )的条纹。
    7. 电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有(      )和(      )。
    8. 俄歇电子能谱仪 适合做材料的(      )和(     )的成分分析。
    9. 电子探针定性分析时是通过测定(     )确定元素,定量分析时通过测定(      )确定含量。
    10. 当X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要条件是(           ), 而产生衍射的充要条件是(          ) 。

    二、判断题:(5题,共10分)
    1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。(          )
    2. 当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。(          )
    3.当X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。(          )
    4. 面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射,而 H+K+L 为奇数不出现反射。(          )
    5. 扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。(          )


    三、 选择题:(10题,共20分)
    1. 当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(   )。
    2. 吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小,吸收电子(    )。
    3. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是(  )。
    4. 让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法,叫做(        )。
    5. 透射电镜的两种主要功能是检测(  )。
    6. 由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差,称为(         )。
    7. 具有fcc结构晶体的(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(311)对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上,而晶面(   )将出现反射。
    8. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生(    )衍射线。
    9. 据Ewald图解可知,满足衍射条件的晶面倒易点阵,必落在半径为(      )的反射球面上。
    10. 下列晶面属于[11]晶带的是(   )。


    四、问答题:(5题,共50分)
    1. 某立方晶体的(111)面间距为0.1506nm,并与入射X射线呈26°的角度,求产生一级衍射时的X射线波长。
    2.电子束入射固体样品表面会激发哪些信号? 它们有哪些特点和用途?
    3.用CuKαX射线得到了硅(fcc)的衍射花样, 测量各衍射线条数据如下, CuKα=1.541Å。试标出各衍射线的干涉指数。计算各衍射线的d 值。
    4.铝为面心立方结构,a=0.4049nm,求出(112)面和(110)面的面间距。
    5.某面心立方结构物资的电子衍射花样如图示,已标出部分指数,试标出其余指数,并求出晶带轴指数r和晶格常数a
    一、填空题:(10题,共20分)
    1. 从X射线管​‌‌射出的X射线谱通常包括(     )和(      )。
    2. 布拉格公式λ=2dsinθ中λ表示(    ),d表示(   ),θ表示(   )。
    3. 利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是(    ),参考(    )。
    4. 透射电镜中的电子光学系统可分为(    )、(    )和(    )三部分。
    5. 电镜中的电子衍射花样有(     )、(      )、(      )和(      )。
    6. 等厚条纹是衍射强度随试样(        )的变化而发生周期性变化引起的,图像特征为(        )的条纹。
    7. 电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有(      )和(      )。
    8. 俄歇电子能谱仪 适合做材料的(      )和(     )的成分分析。
    9. 电子探针定性分析时是通过测定(     )确定元素,定量分析时通过测定(      )确定含量。
    10. 当X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要条件是(           ), 而产生衍射的充要条件是(          ) 。
    二、判断题:(5题,共10分)
    1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。(          )
    2. 当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。(          )
    3.当X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要和充分条件是必须满足布拉格方程。(          )
    4. 面心点阵的系统消光规律是 H+k+L 为偶数时出现反射,而 H+K+L 为奇数不出现反射。(          )
    5. 扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。(          )
    三、 选择题:(10题,共20分)
    1. 当X射线将某物质原子的K层电子打出后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(   )。
    2. 吸收电子的产额与样品的原子序数关系是原子序数越小,吸收电子(    )。
    3. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是(  )。
    4. 让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法,叫做(        )。
    5. 透射电镜的两种主要功能是检测(  )。
    6. 由电磁透镜磁场中近轴区域对电子束的折射能力与远轴区域不同而产生的像差,称为(         )。
    7. 具有fcc结构晶体的(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(311)对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上,而晶面(   )将出现反射。
    8. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生(    )衍射线。
    9. 据Ewald图解可知,满足衍射条件的晶面倒易点阵,必落在半径为(      )的反射球面上。
    10. 下列晶面属于[11]晶带的是(   )。
    四、问答题:(5题,共50分)
    1. 某立方晶体的(111)面间距为0.1506nm,并与入射X射线呈26°的角度,求产生一级衍射时的X射线波长。
    2.电子束入射固体样品表面会激发哪些信号? 它们有哪些特点和用途?
    3.用CuKαX射线得到了硅(fcc)的衍射花样, 测量各衍射线条数据如下, CuKα=1.541Å。试标出各衍射线的干涉指数。计算各衍射线的d 值。
    4.铝为面心立方结构,a=0.4049nm,求出(112)面和(110)面的面间距。
    5.某面心立方结构物资的电子衍射花样如图示,已标出部分指数,试标出其余指数,并求出晶带轴指数r和晶格常数a
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